Instrument Systems ist als einer der führenden Hersteller von Highend-Lichtmesstechnik der MicroLED Industry Association MIA beigetreten. Mit seiner aktiven Mitgliedschaft unterstützt Instrument Systems die Entwicklung
Weiterlesen
Instrument Systems ist als einer der führenden Hersteller von Highend-Lichtmesstechnik der MicroLED Industry Association MIA beigetreten. Mit seiner aktiven Mitgliedschaft unterstützt Instrument Systems die Entwicklung
Weiterlesen
Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2023 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der
Weiterlesen
Auf der diesjährigen Display Week, die vom 21.-26. Mai 2023 im Los Angeles Convention Center stattfindet, launcht Instrument Systems sein neuestes Goniometer der DMS-Serie. Das
Weiterlesen
Yasumasa Kuboyama übernimmt zum 14. April 2023 die Position des Geschäftsführers von Tsutomu Ogasawara und bildet mit CEO Dr. Markus Ehbrecht das neue Geschäftsführungsteam von
WeiterlesenNach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von
Weiterlesen
Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer
Weiterlesen
Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays.
Weiterlesen
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs
Weiterlesen
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit
Weiterlesen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen. München, September
Weiterlesen