Nach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von
WeiterlesenAutor: Firma Instrument Systems
ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden
Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer
WeiterlesenSpektrale Charakterisierung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays
Instrument Systems zeigt auf der SPIE Photonics West 2023 schnelle und hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit innovativen Kamerasystemen zur Vermessung von VCSELn, MicroLEDs und AR/VR-Displays.
WeiterlesenSpectral characterization of VCSELs, microLEDs and AR/VR displays
At SPIE Photonics West 2023, Instrument Systems will be displaying fast, high-resolution spectroradiometers in combination with innovative camera systems for the measurement of VCSELs, microLEDs
WeiterlesenVCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award
Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit
WeiterlesenLumiTop gewährleistet Qualität von μLED-Arrays in AFS-Anwendungen
Die intelligente Kombination aus instantaner spektralradiometrischer Referenzmessung und kamerabasierter Farb- und Helligkeitsmessung prädestiniert das LumiTop-System von Instrument Systems für die Qualitätsprüfung von µLED-Modulen. München, September
WeiterlesenInstrument Systems verstärkt seine Kerngeschäftsfelder Display Testing und Optische Messtechnik
Instrument Systems GmbH (Instrument Systems), ein Münchner Hersteller von hochpräzisen Spektralradiometern, Kameras und komplexen Display- und Lichtmesssystemen, übernimmt koreanischen Hersteller von Displaymesssystemen, um seine Kerngeschäftsfelder
WeiterlesenNeuer CIE-Report zur Spektralradiometrie
Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das
WeiterlesenFernfeld-Analyse von Infrarotquellen
Die Infrarotkamera VTC 2400 von Instrument Systems ist passgenau für die Fernfeldanalyse von IR-Emittern entwickelt und sowohl für den Einsatz in Labor als auch Produktion
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