Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie
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Autor: Firma MICRO-EPSILON-MESSTECHNIK GmbH & Co. K.G.
Laserscanner für große Messbereiche
Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen
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Performance-Steigerung für Laserscanner scanCONTROL
Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde.
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Neues Interferometer zur hochpräzisen Wafer-Dickenmessung
Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte
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Farbmessung: Schnell, präzise, vielseitig
Der colorSENSOR CFO250 ist ein leistungsstarker Farbsensor – ideal geeignet für die industrielle Farbprüfung in der laufenden Produktion, wenn hohe Geschwindigkeiten gefordert sind. Mit dem
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Robuste Laser-Distanzsensoren für den Außeneinsatz
Der neue Laser-Distanzsensor optoNCDT ILR1171-125 wird für Distanzmessungen bis zu 270 m eingesetzt und überzeugt insbesondere bei Messaufgaben im Außenbereich. Dank Time-of-Flight Prinzip und hoher
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Kleiner Lasersensor mit höchster Leistung
Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie
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Laserscanner für große Messbereiche
Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen
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Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte
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