Am 16. und 17. November 2023 findet in Dresden die 16. Tagung „Feinwerktechnische Mechanik“ statt. Die von der Deutschen Gesellschaft für Feinwerktechnik (DGFT) organisierte Veranstaltung
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WeiterlesenDer 6-Achs-Manipulator von Steinmeyer Mechatronik kombiniert einen Kreuztisch mit einem Tripod und erzielt dadurch ein Höchstmaß an Präzision, Steifigkeit und Kompaktheit. Eine ideale Lösung für
WeiterlesenDas kompakte High-Speed-Gantry von Steinmeyer Mechatronik setzt Maßstäbe in puncto Performance, Flexibilität und Anpassungsfähigkeit und ist damit eine ideale Lösung für hochgenaue Positionieraufgaben in der
WeiterlesenAls Spezialist für maßgeschneiderte mechatronische Positioniersysteme entwickelt und produziert Steinmeyer Mechatronik kundenspezifisch integrierte Platinen, die keinerlei Wünsche offenlassen. Das Ergebnis sind sehr kompakte Lösungen mit
WeiterlesenDer hochpräzise 8-Achs-Positionierer des Dresdner Positionierspezialisten Steinmeyer Mechatronik bietet eine Vielzahl an Verstellmöglichkeiten und lässt sich zu 100 % an die kundenindividuelle Applikation anpassen. Eine
WeiterlesenMit dem Doppel-XYZ-Wafer-Positionierer bietet Steinmeyer Mechatronik eine hochwirtschaftliche Lösung für die Analyse und Inspektion großer Wafer bis 12 Zoll bzw. 300 mm. Das Inspektionsportal mit
WeiterlesenAls Kompetenzzentrum für Positioniersysteme und mechatronische Baugruppen ist Steinmeyer Mechatronik (ehemals Feinmess Dresden) ein wichtiger Partner der internationalen Hightech-Industrie. 2022 feiert das von Gustav Heyde
WeiterlesenFür Inspektionsanlagen in der Halbleiter- oder Optikfertigung hat der Dresdner Positionierspezialist Steinmeyer Mechatronik ein kompaktes Gantry-System entwickelt, das höchste Präzision im Submikrometerbereich mit langen Verfahrwegen
WeiterlesenDer Kreuztisch KDT 105 NM von Steinmeyer Mechatronik ist hochpräzise, robust sowie vollkommen frei von magnetischen Materialien – und damit eine ideale Lösung für die
WeiterlesenDas XYZ-Positioniersystem zur automatisierten Inspektion hat Steinmeyer Mechatronik speziell für die Qualitätskontrolle von großen Wafern, Probecards und Leiterplatten entwickelt. Es erlaubt die Hochgeschwindigkeitspositionierung entlang zweier
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